분석장비

원자측정현미경

Atomic Force Microscope

모델명 :
XE-70
제조사 :
PARK Systems
담당자 :
최해민
chm22@khu.ac.kr / 031-201-3295
담당자 :
정은하
ehjeong@khu.ac.kr / 031-201-3295

장비용도

캔틸레버를 이용하여 원자간에 작용하는 척력과 인력의 작용(van der waals force)에 의해 다양한 반도체 소재 및 박막의 표면분석

캔틸레버를 이용하여 원&\\\#8203;자간에 작용하는 척력과 인력의 작용에 의해 다양한 반도채 소재 및 박막의 표면분석에 활용

표면의 마찰력과 같은 물리적 표면 특성 뿐만 아니라 bias를 인가하여 전기적인 표면 특성 분석 가능

 

1) EFM(tapping mode, contact mode)

-표면전위, 표면전하, 유전상수 등 샘플의 전기적 특성을 측정하는 모드

-샘플-탐침 간 교류/직류 전압을 걸어 전기적 특성을 측정

 

  

 

 

 

2) KPFM 

-표면 일함수를 측정하는 모드

-샘플-탐침 간 교류/직류 전압을 걸어 전기적 특성을 측정 

 

 

  ① XY scanner : 100 ㎛ x 100 ㎛

  Z scanner : 25 ㎛

  Sample size : up to 100 mm

  Thickness : up to 20 mm

  Field-of-view : 480 x 360 ㎛

  mode : EFM, KPFM, DC-EFM