분자는 광 여기 후, 형광 등의 발광을 수반하는 복사 과정을 거쳐 기저 상태로 되돌아온다. 이 때, 시간 축이라는 매개 변수를 측정하여 발광 역학을 관찰하는 것을 형광 수명 측정이라고 하며, 물질이 펄스 빛에 의해 광 여기된 후 기저 상태로 되돌아오기까지의 시간을 서브 나노 초~밀리초 시간 영역에서 측정한다. 이렇게하면 동일한 파장에서도 형광 수명이 다른 것이 복수 존재하고 있는 비율이 얼마인지 등의 정보를 알 수 있다. 

펄스화된 광원으로부터 여기된 시료의 방출의 전체 스펙트럼은 맨 위 파형과 같이 보여지며, 이러한 파형은 많은 형광체들이 광원으로부터 여기되어, 수많은 광자들이 방출되어 만들어진다. 그러나 한번에 무작위하게 방출되는 많은 광자를 동시에 시간별로 정확히 측정이 불가능하기 때문에, 단광자계수법(Time-correlated single photon counting)이 사용된다. 

1. Wavelength range : 300~800 nm

2. Excitation light source : LED light source (280, 340, 365, 405, 470, 590, 630 nm)

                                          Xenon flash lamp source (280, 340, 365, 405 nm) 

3. Reputation rate : 20 mHz~10 MHz

4. Measurement time range : 4 ns~10 s / full scale

5. 극저온(-196℃)에서 측정 가능

샘플의 형태는 film과 solution만 측정 가능합니다.

Film size : 10 × 10~ 25 × 25 mm  

측정시 여기 파장에 대한 정보가 필요합니다.