OLED 수명 측정 시스템
OLED Lifetime Test System
OLED 소자의 시간에 따른 휘도 변화를 측정하여 수명을 예측함
OLED 수명 측정 시스템은 소자를 장시간 Constant Current, Constant Voltage, Voltage Controlled Pulse, Current Controlled Pulse, Reverse Voltage Controlled & Forward Current Controlled Pulse의 조건으로 구동한 후 실시간으로 전류, 전압, 휘도의 상대 변화를 측정하여 상대 수명을 예측하는 장비이다. 다채널 방식으로 구성되어 OLED를 동시에 시험할 수 있다.
OLED 소자에 전기적 신호를 인가하면서 출력되는 광량을 시간에 따라 주기적으로 측정하여 수명을 평가한다. 초기 광량을 100%로 하였을 때, 시간에 따른 광량이 감소되는 수준을 기준으로 하여 LT70(30% 광량 감소) 또는 LT50(50% 광량 감소) 등으로 표시한다.
1. Channel construction : Total 32 ch
2. Driving power : DC & pulse
3. Control Mode : CV, CC, PV, PC, PCV
4. Voltage : ±20 V (0.1% Acc.)
5. Current : ±10 mA (0.1% Acc.)
Test device 30 × 30 mm, 25 × 25 mm의 바람개비 패턴 소자 측정이 가능합니다.