Photolighthography 공정에서 기판에 감광액을 도포한 이후 mask를 사용하여 UV을 조사하여 원하는 전극 pattern을 형성하는데 사용
일반적인 사진 인화의 원리와 동일한데 PR(Photo resist)이란 특정 파장대의 빛은 받으면(노광: photo exposure)반응을 하는 일종의 감광 고분자 화합물(photosensitive polymer)을 pattern을 올리고자 하는 Wafer의 표면에 Spin coating 공정으로 올려놓고 그 위에 Pattern이 새겨진 Mask를 올린다. 다시 그 위에 특정 파장대의 빛(일반적으로 UV)을 쬐어주면 PR이 Pattern Mask의 뚫린 부분만을 통과하여 감광 시키게 되는 원리이다.
1. Stage
- Substrate size : Up to 8" round
- Chuck : 150 x 150 square
- Movement : X ± 13 mm, Y ± 13 mm, Z 5 mm, Theta 5 degrees
- Alignment accuracy : 1 um
- Mechanical resolution : 0.1 um
- Leveling Z-motion motorizing & air pressure sensor
- Vibration protection mounted on anti-vibration table
2. Mask Holder
- Mask holding type : Vacuum * clip
- Proximity gap : Gap ball type for negative PR
- Gap control : 1 um
- Gap ball : 2 mm sapphire ball
- Mask holder : 7"x 7" mask holder
3. UV Source
- UV lamp : 500 W or 1 kW, Fixed light source(70 ~ 100%)
- Uniform beam size : 8.25" X 8.25" T
- Exposure mode : Pressure / Vacuum / Proximity
- Exposure time control programmable
- Exposure timer : 1 ~ 3,500 sec
4. Microscope
- Type : Dual scope & CCD camera
- Monitor : 17" LCD monitor
- Video mode : Single and split field
- Magnification : 35x ~ 400x
- Objective spacing : 50 mm ~ 200 mm
- Zoom6000 : 0.7x ~ 4.5x
- CCD Camera : 1/3" CCD
5. Control System
- Controller : PLC & PC controller
- Software : MDA visual software