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소식 | News

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형광광도계 Fluorescence spectrometer

•모델명 : FL6500
•제조사 : Perkin-Elmer (U.S.A)
• 용도 : 화학분자나 물질에 빛을 쪼여 들뜨게하고 들뜬 곳에서 나오는
형광의 세기를 측정하는 장치
•주요 사양 및 특징
- Film, Powder, Solution 측정 가능
- 극저온(-180℃)까지 측정 가능
- Illumination Source: Pulse Xenon Lamp
- Wavelength range(Ex and Em): 200~900 nm
- Slit width: 4,2.5,5,10,20nm
- Detector: PMT R928
• 원리 : 물질이 빛을 흡수하면 원자나 분자의 전자배열이 기저상태에서 들뜬 상태로 바뀌게 된다. 일반적으로 들뜬 상태의 원자나
분자는 매우 불안정하기 때문에 흡수한 빛에너지를
열의 형태로 방출하거나 또는 다른 파장의 빛으로써
재방출하여 원래의 기저상태로 되돌아가게 된다. 이
와 같이 빛을 흡수한 어떤 물질이 기저 상태로 되돌
아가면서 재방출하는 빛을 형광이라고 하며 이 형광
의 세기를 측정하여 물질을 분석한다.

04
엘립소미터 Ellipsometer

•모델명 : Alpha-SE
•제조사 : J.A. Woollam
•용도 : 박막의 두께 및 굴절율 측정
•주요 사양 및 특징
- Angles of Incidence : 65°, 70°, 75° (off sample)
- Spectral Range : 380nm to 900nm (180 wavelengths)
- Pixel Resolution : 0.01eV
- Beam Diameter:Approximately 3mm
- Measurable Quantities : Ellipsometry:
Ψ (0°-90°) and Δ (0°-360°)
- Sample Size : Sample dimensions from 5mm
up to 200mm
• 원리 : 다양한 방식으로 빛의 편광 특성 변화를 확인하여 빛
의 파장에 따른 물질의 복소 굴절률(complex refrective
index)을 측정하는 타원계측법을 이용함.

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