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소식 | News

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켈빈프로브 Kelvin Probe

•모델명 : Scanning Kelvin Probe 5050
•제조사 : KP Technology
• 용도 : 금속 또는 전도성 물질의 일함수 측정
•주요 사양 및 특징
- 프로브 팁과 샘플 사이의 전위차를 이용한 상대 일함수 측정
- Workfunction resolution : 1~3 meV
- 일함수 mapping 가능
• 성능향상 및 개선사항
- KP ambient head assembly 교체
· Tip amplifier의 연결선이 노후화되어 샘플 측정시 data의 편차가 크게 발생함.
· Amplifier head를 교체함으로써 측정값의 정밀도를 향상시킴.
- Faraday/Light-tight/Optical Enclosure 설치
· 기존의 프레임은 전자파 차폐 효과가 없어 샘플 측정시 주변부에 의한
간섭을 받으며, 빛에 의한 영향을 받는 샘플의 경우 측정이 어려움.
· Faraday/Light-tight/Optical Enclosure 설치로 data의 정밀성이 증가
하고, 다양한 분야에서의 활용이 가능할 것으로 예상됨.

04

만능물성측정장치 Universal Material Testing Machine

•모델명 : 5844 (5943)
•제조사 : HInstron (U.S.A)
• 용도 : 유기재료, 무기재료, 금속재료의 기계적 특성을 측정
•주요 사양 및 특징
- Load capacity : 1 kN
- 보유 Load cell : 10 N, 100 N, 1 kN
- 인장강도, 압축강도, 굴곡강도, 박리강도 측정
- KS M ISO 527-3 규격으로 시험 가능
•성능향상 및 개선사항
- Software 업그레이드 : Bluehill 2 → Bluehill Universal
- 컨트롤러 교체에 따른 사양 변경
항목 5800 controller 5900 controller
시험 속도 0.05 - 1000 mm/min 0.05 - 2500 mm/min
데이터 획득 속도 - 하중, 변위 및 연신율 채널에서 동시에 1 kHz까지

시험 속도 로드셀 용량의 1/100까지 측정 하중값의 ± 0.4% 로드셀 용량의 1/500까지 측정 하중값의 ± 0.5%

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