표면조도(Ra etc.)

시료의 표면 roughness 측정

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  주사탐침현미경

  유기, 고분자 및 무기 시료의 나노표면 형상 분석

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  표면단차측정기

  박막의 두께 측정 및 모폴로지 관찰

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  원자측정현미경

  캔틸레버를 이용하여 원자간에 작용하는 척력과 인력의 작용(van der waals force)에 의해 다양한 반도체 소재 및 박막의 표면분석

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